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隨機誤差是不可預知的，因為它以隨機形式存在，會(huì )隨時(shí)間變化，因此不能通過(guò)校準消除。隨機誤差的主要來(lái)源為儀表內部噪聲，例如，激勵源的相位噪聲、采樣噪聲、中頻接收機本底噪聲、開(kāi)關(guān)動(dòng)作重復性等。

漂移誤差是儀表校準后測試裝置性能的漂移。漂移誤差主要是由于溫度變化造成，可通過(guò)進(jìn)一步校準消除。校準后儀表能夠保持穩定精度的時(shí)間長(cháng)短取決于測量環(huán)境中儀表的漂移速度。直通校準，非常容易執行，主要用于消除頻率響應錯誤。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

直接測量方案由成都玖錦的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀VNA1000A、掃描支架、近場(chǎng)測試探頭、待測天線(xiàn)支架、主控PC、掃描控制器以及微波暗室組成。將待測天線(xiàn)AUT作為發(fā)射端，測試探頭作為接收端（可根據實(shí)際情況變換）。VNA1000A的一個(gè)端口發(fā)射信號，另一端口作為接收端口。在各掃描點(diǎn)測量接收信號b和發(fā)射信號a的比值（幅度，相位）。在必要的情況下，可以用功率放大器將發(fā)射信號放大，在接收天線(xiàn)后采用低噪聲放大器提高系統靈敏度。

網(wǎng)絡(luò )分析儀內部功分器和定向耦合器分別完成對被測件輸入信號和反射信號的提取。其中當要測試被測件某個(gè)端口反射特性時(shí)，必須將定向耦合器直接連接在該測試端口上。

這兩部分統稱(chēng)為信號分離裝置，這部分硬件也通常被測試為“測試座”，在一些特殊測試場(chǎng)合(大功率測試等)可不使用網(wǎng)絡(luò )分析儀表一體化的內置測試座，而使用外置測試座設備。

電橋用于反射性能測試，電橋可覆蓋很寬頻率范圍，電橋的主要缺點(diǎn)是對傳輸信號有較大損耗。因此對于給定的信號源功率。結果導致輸入到被測件的功率損失。

定向耦合器負責分離反射測試中的激勵信號和反射信號，這個(gè)功能也可由電橋完成，與定向耦合器相比，電橋可覆蓋更寬的頻率范圍，單其對測試的傳輸信號有較大損耗。